AA(S)

　原子吸光光度計

　HPLC-MS　or　
　HPLC-MS/MS

　高速液体クロマトグラフ
　質量分析計

　AEM

　分析電子顕微鏡装置

　MS

　質量分析装置

　AES

　オージェ電子分光装置

　NIR

　近赤外分光光度計

　AFM

　原子間力顕微鏡装置

　NMR

　核磁気共鳴装置

　CD

　円二色性分散計

　PCR

　複製連鎖反応装置
　(サーマルサイクラ)

　CE

　キャピラリー

　QMS

　四重極形質量分析装置

　CGE

　キャピラリーゲル
　電気泳動装置

　RBS

　ラザフォード
　後方散乱分光装置

　CLD

　化学発光検出器

　RSS

　ラマン散乱分光装置

　CZE

　キャピラリーゾーン
　電気泳動装置

　SAES

　走査形オージェ電子分光計

　DNA

　デオキシリボ核酸
　アナライザー

　HPLC-
　SEC(GPC)

　サイズ排除クロマトグラフ

　DSC

　示差走査熱量計

　SEM

　走査形電子顕微鏡装置

　DTA

　示差熱分析装置

　SEM/EDX

　エネルギー分散型
　走査電子顕微鏡装置

　ECD

　電子捕獲検出器

　SFC

　超臨界流体クロマトグラフ

　ECD

　電子化学検出器

　SFE

　超臨界流体抽出法

　EDX

　エネルギー分散型
　Ｘ線分光計

　SIMS

　二次イオン質量分析計

　EPMA

　電子ブローブ型
　X線マイクロ分析計

　SPM

　走査プローブ顕微鏡装置

　ESR

　電子スピン共鳴装置

　SR

　シンクロトロン放射光度装置

　FAB

　高速原子衝撃イオン化装置

　SSD

　半導体検出器

　FIA

　フローインジェクション分析法

　STM

　走査トンネル電子顕微鏡装置

　FIB

　収束イオンビーム装置

　TA

　熱分析装置

　FID

　水素炎イオン化検出器

　TEM

　熱機械的分析装置

　FIM

　電界イオン顕微鏡装置

　TG

　熱重量測定装置

　FPD

　炎光光度検出器

　TLC

　薄層クロマトグラフ

　FT-IR

　フーリエ変換赤外分光光度計

　TMA

　熱機械的分析装置

　FT-NIR

　フ−リエ変換
　近赤外分光光度計

　TOF-MS

　飛行時間型質量分析計

　FT-NMR

　フーリエ変換核磁気共鳴
　解析装置

　TOF-SIMS

　飛行時間型二次イオン
　質量分析計

　FTD

　熱イオン化検出器

　TRXRF

　全反射蛍光Ｘ線装置

　GC

　ガスクロマトグラフ

　UPS

　紫外光電子分光装置

　GC-MS or
　GC-MS/MS

　ガスクロマトグラフ
　質量分析計

　UV/VIS

　紫外可視吸光光度計

　GD-AES

　グロー放電発光分光装置

　UV

　紫外・可視吸光光度法

　HPLC

　高速液体クロマトグラフ

　XAFS

　Ｘ線吸収微細構造解析装置

　IC

　イオンクロマトグラフ

　XD(XRD)

　Ｘ線回折装置

　ICP-AES

　誘導結合高周波プラズマ
　発光分光装置

　XF(XRF)

　蛍光Ｘ線解析装置

　ICP-MS

　誘導結合高周波プラズマ
　質量分析計

　XPS

　Ｘ線光電子解析装置

　IR

　赤外分光光度計

　XRF/EDX

　エネルギー分散型
　蛍光Ｘ線解析装置

　LC

　液体クロマトグラフ

　XRF/WDX

　波長分散型蛍光Ｘ線装置